Quais substâncias são usadas principalmente para observação em microscópios eletrônicos de varredura?
O microscópio eletrônico de varredura (MEV) foi inventado em 1965 e é usado principalmente para pesquisas em biologia celular. Ele usa principalmente imagens de sinais de elétrons secundários para observar a morfologia da superfície da amostra, ou seja, usa um feixe de elétrons extremamente estreito para escanear a amostra. A interação com a amostra produz vários efeitos, entre os quais os principais são os elétrons secundários da amostra.
Os elétrons secundários podem produzir uma imagem topográfica ampliada da superfície da amostra. Essa imagem é estabelecida em sequência temporal quando a amostra é escaneada, ou seja, a imagem ampliada é obtida por meio de imagem ponto a ponto.
A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é um método de observação da morfologia microscópica entre a microscopia eletrônica de transmissão e a microscopia óptica. Ele pode usar diretamente as propriedades dos materiais da superfície da amostra para imagens microscópicas. As vantagens do microscópio eletrônico de varredura são: ① Possui alta ampliação, que é continuamente ajustável entre 20 e 200,000 vezes; ② Possui grande profundidade de campo, grande campo de visão e imagem tridimensional, podendo observar diretamente as superfícies irregulares de várias amostras. Boa estrutura; ③ A preparação da amostra é simples. Os microscópios eletrônicos de varredura atuais são equipados com dispositivos espectrômetros de energia de raios X, que podem observar a morfologia da microestrutura e a análise de componentes da microrregião (ou seja, SEM-EDS) ao mesmo tempo, por isso é um dos mais importantes instrumentos de pesquisa científica da atualidade.
⑴ Biologia: sementes, pólen, bactérias...
⑵Medicina: células sanguíneas, vírus...
⑶Animais: intestino grosso, vilosidades, células, fibras...
⑷Materiais [1]: Cerâmicas, polímeros, pós, metais, inclusões metálicas, resina epóxi...
⑸Química, física, geologia, metalurgia, minerais, lodo (bacilos), máquinas, motores e amostras condutoras, como materiais eletrônicos semicondutores (IC, medição de largura de linha, seção transversal, observação de estrutura...), etc.
