Quais são os fatores que impactam a resolução de um microscópio eletrônico de transmissão?

Mar 24, 2024

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Quais são os fatores que impactam a resolução de um microscópio eletrônico de transmissão?

 

A. Diâmetro do ponto do feixe de elétrons incidente: o limite do poder de resolução do SEM. Geralmente, o diâmetro mínimo do ponto do canhão de elétrons de cátodo quente pode ser reduzido para 6 nm, e o canhão de elétrons de emissão de campo pode tornar o diâmetro do ponto menor que 3 nm.


B. Efeito de expansão do feixe de elétrons incidente na amostra: o grau de difusão depende da energia do elétron do feixe incidente e do número atômico da amostra. Quanto maior a energia do feixe incidente e menor o número atômico da amostra, quanto maior o volume do feixe de elétrons, maior será a área do sinal gerado com a difusão do feixe de elétrons, reduzindo assim a resolução.


C. método de imagem e sinal de modulação utilizado: quando o sinal de modulação eletrônica secundária, devido à sua baixa energia (menos de 50 eV), o alcance livre médio é curto (10 ~ 100 nm ou mais), apenas na camada superficial de a faixa de profundidade de 50 ~ 100 nm dos elétrons secundários pode escapar da superfície da amostra, a ocorrência do número de espalhamento é muito limitada, basicamente não se expandiu lateralmente, então a resolução da imagem do elétron secundário é aproximadamente igual ao feixe diâmetro do ponto. Quando os elétrons retroespalhados são usados ​​como sinal de modulação, os elétrons retroespalhados podem escapar da região mais profunda da amostra (cerca de 30% da profundidade efetiva) devido à sua alta energia e capacidade de penetração. Nesta faixa de profundidade, os elétrons incidentes tiveram uma expansão lateral bastante ampla, de modo que a resolução da imagem do elétron retroespalhado é menor do que a imagem do elétron secundário, geralmente na faixa de 500 ~ 2000nm ou mais. Se a absorção de elétrons, raios X, catodoluminescência, condutância de detecção de feixe ou potencial como sinal de modulação de outros modos de operação, devido ao sinal de toda a região de espalhamento do feixe de elétrons, a imagem de varredura resultante da resolução é relativamente baixa, geralmente em l, 000 nm ou l.000 nm ou mais que variam.

 

2 Electronic microscope

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