Reparo de falhas de transistores chaveados em fontes chaveadas

Nov 01, 2025

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Reparo de falhas de transistores chaveados em fontes chaveadas

 

Danos repetidos aos tubos dos interruptores de energia (ou circuitos de película espessa contendo tubos dos interruptores) são um ponto chave e difícil na manutenção dos circuitos de energia dos interruptores. Abaixo está uma análise sistemática.

 

O tubo interruptor é o componente principal da fonte de alimentação chaveada, que funciona em ambientes de alta corrente e alta tensão. Sua taxa de dano é relativamente alta. Uma vez danificado, muitas vezes não é fácil eliminar a falha substituindo-o por um novo tubo, podendo até danificar o novo tubo. É difícil solucionar esse tipo de tubo de comutação danificado repetidamente, o que muitas vezes deixa os iniciantes perdidos. Abaixo está uma breve análise das causas comuns de danos repetidos aos tubos de comutação.

 

1. Danos por sobretensão no tubo do interruptor

① A tensão da rede está muito alta, o que resulta em uma alta tensão de trabalho para o dreno do tubo do interruptor. Como resultado, a amplitude do pulso de comutação gerado pelo dreno do tubo de comutação aumenta naturalmente, rompendo o valor da tensão suportável do tubo de comutação D-S e causando a quebra do tubo de comutação.

 

② Há um problema com o circuito regulador de tensão, que faz com que a tensão de saída da fonte de alimentação chaveada aumente. Ao mesmo tempo, a amplitude da tensão induzida gerada por cada enrolamento do transformador chaveador é grande. A tensão induzida gerada pelo seu enrolamento primário é sobreposta à tensão de trabalho CC obtida pelo dreno D do transistor chaveador. Se este valor sobreposto exceder o valor da tensão suportável do transistor chaveador D-S, isso danificará o transistor chaveador.

 

③ Há um problema com o circuito de proteção do dreno D do tubo de comutação (circuito de absorção de pulso de pico), que não pode absorver os pulsos de pico de alta amplitude do dreno D do tubo de comutação, resultando em alta quebra de tensão de dreno do tubo de comutação.

 

④ A falha do grande capacitor de filtragem (capacitor de filtragem de 300 V) resultou em um grande número de pulsos de alta-frequência em ambas as extremidades, que se sobrepuseram à tensão anti-pico durante o período de corte do tubo de comutação, causando danos por sobretensão ao tubo de comutação.

 

2. Danos por sobrecorrente no tubo do interruptor

① O dissipador de calor do tubo do interruptor é muito pequeno ou não está firmemente fixado.

 

② A fonte de alimentação do interruptor está sobrecarregada, fazendo com que o tempo de condução do tubo do interruptor seja prolongado e danificando o tubo do interruptor. Os motivos comuns são circuitos de retificação e filtragem deficientes da tensão de saída ou falhas como curtos-circuitos e vazamentos no circuito de carga.

 

③ Curto-circuito entre as voltas do transformador de comutação.

 

3. Alto consumo de energia e danos ao tubo do interruptor

Existem dois tipos comuns: alta perda de abertura e alta perda de fechamento. A grande perda de abertura se deve principalmente ao fato de que o transistor chaveador não pode entrar no estado de saturação a partir do estado amplificado dentro do tempo especificado. A principal razão para a alta perda de abertura do tubo de comutação é devido à excitação insuficiente do tubo de comutação. A grande perda de desligamento se deve principalmente ao fato de que o transistor chaveador não pode entrar no estado de corte a partir do estado amplificado dentro do tempo especificado. A principal razão para a alta perda de desligamento do transistor chaveador é devido à distorção da forma de onda do pólo da porta (base) do transistor chaveador.

 

4. O próprio tubo do interruptor tem problemas de qualidade

A qualidade dos tubos de comutação disponíveis comercialmente varia muito. Se houver problemas de qualidade com os tubos do interruptor, é inevitável que sejam danificados repetidamente.

 

5. Substituição inadequada de tubos de comutação

A potência do transistor de comutação de-efeito de campo em uma fonte de alimentação chaveada é geralmente alta e não pode ser substituída por um transistor de efeito de campo-de baixa-potência e baixa{2}}tensão, caso contrário ele é altamente suscetível a danos. Também não é possível utilizar transistores como BU508A e 2SD1403 para substituição. Experimentos descobriram que, embora a fonte de alimentação possa funcionar após a substituição, o transistor superaquece após alguns minutos ligado, o que pode causar danos repetidos ao transistor chaveador.

 

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