Como personalizar a ampliação do estereomicroscópio para diversas necessidades de aplicação
Como adaptar a observação ampliada do estereomicroscópio a diferentes requisitos
O microscópio estereoscópico é usado para inspeção e observação tridimensional de componentes eletrônicos, placas de circuito integrado, ferramentas de corte rotativas, ímãs, etc. Como se adaptar a esses diferentes requisitos com base no fato de que esses diferentes objetos precisam ser observados em diferentes ampliações? Pode ser resolvido através de vários aspectos. um. Isso pode ser alcançado através do desempenho óptico. b. Pode ser selecionado para observação de vídeo. c. Isso pode ser alcançado através do desempenho mecânico. d. Pode ser iluminado por uma fonte de luz
Desempenho óptico: Com base nos requisitos de observação do objeto medido, diferentes oculares/objetivas são selecionadas para resolver problemas como alta ampliação e grande campo de visão. Quando apenas uma grande ampliação é necessária, isso pode ser conseguido substituindo a ocular e a lente objetiva de alta ampliação. Quando um grande campo de visão é necessário, isso pode ser conseguido substituindo a lente objetiva, reduzindo a ocular ou substituindo a ocular de grande campo de visão.
Observação por vídeo: Quando a ampliação óptica é insuficiente, a ampliação eletrônica pode ser usada como compensação. Ao observar e querer armazenar e preservar simultaneamente, podemos optar pelos vídeos. Existem vários formatos de vídeo: A. Pode ser acessado diretamente através de um monitor B. Pode ser conectado a um computador (através de um CCD digital ou placa de aquisição de imagem CCD analógica) C. Pode ser conectado a uma câmera digital (diferentes câmeras digitais precisam considerar diferentes interfaces e compatibilidade com o microscópio)
Desempenho mecânico: Ao encontrar soldagem, montagem, inspeção de grandes placas de circuito integrado e requisitos de distância de trabalho, podemos resolvê-los por meio de desempenho mecânico, como suportes universais, suportes de balancim, grandes plataformas móveis, etc.
Com suas características de desempenho, podemos concluir diretamente nosso trabalho de detecção usando colchetes e plataformas na detecção de objetos grandes. Não há necessidade de mover nosso objeto testado. Por exemplo, a Empresa A encontrou dificuldade para mover a placa de circuito devido ao seu grande tamanho e à necessidade de observação levemente inclinada. Portanto, o trabalho de inspeção só poderia ser concluído por meio de movimento mecânico, e o uso de suportes universais poderia atender a esses requisitos de uso simultaneamente.
Iluminação da fonte de luz: A iluminação da fonte de luz desempenha um papel crucial para que o objeto medido possa ser visto claramente. Ao selecionar a iluminação, é necessário escolher a ferramenta de iluminação e o método de iluminação correspondentes com base nas características do próprio objeto medido (considerando seus requisitos de luz, como forte/fraco/reflexo, etc.). Se a transmissão-incorporada e a iluminação oblíqua de um estereomicroscópio típico não atenderem às suas necessidades de iluminação, também preparamos luzes LED de fonte de luz fria, luzes circulares, luzes de fonte de luz fria de fibra simples/dupla, etc.
