Como medir a perda de energia de fontes chaveadas com um osciloscópio digital
Com a crescente demanda por fontes de alimentação comutadas em muitos setores, medir e analisar a perda de energia da próxima geração de fontes de alimentação comutadas tornou-se crucial. Neste campo de aplicação, os osciloscópios digitais de fluorescência das séries TDS5000 ou TDS7000, combinados com o software de medição de potência TDSPWR2, podem ajudá-lo a concluir facilmente as tarefas de medição e análise necessárias.
A nova arquitetura de fonte de alimentação comutada (SMPS) exige que alta corrente e baixa tensão sejam fornecidas aos processadores com alta velocidade de dados e nível de GHz, o que adiciona novas pressões intangíveis sobre os projetistas de dispositivos de energia em termos de eficiência, densidade de energia, confiabilidade e custo. Para considerar esses requisitos no projeto, os projetistas adotaram novas arquiteturas, como tecnologia de retificação síncrona, correção de filtragem de potência ativa e aumento da frequência de comutação. Essas tecnologias também trazem desafios maiores, como maiores perdas de energia, dissipação térmica e EMI/EMC excessiva em dispositivos de switch.
Durante a transição do estado "desligado" (condução) para "ligado" (desligado), o dispositivo de fonte de alimentação sofrerá grande perda de energia. A perda de energia dos dispositivos de comutação no estado "ligado" ou "desligado" é relativamente baixa porque a corrente que passa pelo dispositivo ou a tensão no dispositivo é pequena. Indutores e transformadores podem isolar a tensão de saída e suavizar a corrente de carga. Indutores e transformadores também são suscetíveis à influência da frequência de chaveamento, levando à dissipação de potência e falhas ocasionais causadas por saturação.
