Como a ampliação de observação de um microscópio estéreo atende a diferentes requisitos?
Os microscópios estéreo são usados para inspeção tridimensional e observação de peças eletrônicas, placas de circuito integrado, ferramentas rotativas, ímãs, etc. Com base no fato de que esses diferentes objetos medidos precisam ser observados em diferentes ampliações, como se adaptar a esses diferentes requisitos ? Pode ser resolvido através de vários aspectos: a. Pode ser resolvido através de propriedades ópticas; b. A observação de vídeo pode ser selecionada; c. Pode ser resolvido através de propriedades mecânicas; d. Pode ser iluminado por fonte de luz.
Desempenho óptico: De acordo com os requisitos de observação do objeto medido, problemas como grande ampliação e grande campo de visão podem ser resolvidos selecionando diferentes oculares\objetivos. Quando apenas uma grande ampliação for necessária, você poderá substituir a ocular e a lente objetiva de alta ampliação. Quando você precisar de um amplo campo de visão, poderá atender ao requisito alterando a lente objetiva, reduzindo o tamanho da ocular ou mudando para uma ocular de amplo campo de visão.
Observação por vídeo: Quando a ampliação óptica não é suficiente, a ampliação eletrônica pode ser usada para compensar. Ao observar ao mesmo tempo e querer armazenar e reter, podemos escolher o vídeo. Existem muitos métodos de vídeo: A. Pode ser diretamente através do monitor. B. Ele pode ser conectado a um computador (através de um CCD digital ou placa de captura de imagem CCD analógica). C. Ele pode ser conectado a uma câmera digital (diferentes câmeras digitais devem considerar diferentes interfaces e compatibilidade com o microscópio).
Propriedades mecânicas: Ao encontrar algumas áreas de soldagem, montagem, inspeção de grandes placas de circuito integrado e requisitos de distância de trabalho, podemos resolver o problema por meio de propriedades mecânicas, como suportes universais, suportes de balancim, grandes plataformas móveis, etc. , ao detectar objetos grandes, nosso trabalho de inspeção pode ser concluído diretamente através do suporte e da plataforma. Não há necessidade de mover nosso objeto medido. Por exemplo: Empresa A, como a placa de circuito a ser inspecionada é relativamente grande e requer observação de inclinação sutil, é difícil mover a placa de circuito e o trabalho de inspeção só pode ser concluído por meio de movimento mecânico. O uso de um suporte universal pode atender a esses requisitos de uso ao mesmo tempo.
Iluminação da fonte de luz: A iluminação da fonte de luz desempenha um papel vital para que o objeto que está sendo medido possa ser visto claramente. Ao escolher a iluminação, ela deve basear-se nas características do objeto que está sendo medido (seus requisitos de luz, forte\fraco\reflexivo, etc. devem ser levados em consideração)) para selecionar as ferramentas e métodos de iluminação correspondentes. Se a transmissão e a iluminação oblíqua que vem com os microscópios estéreo gerais não puderem atender às suas necessidades de iluminação, também preparamos lâmpadas LED de fonte de luz fria, luzes circulares, lâmpadas de fonte de luz fria de fibra óptica simples/dupla, etc.
