Diferença entre um microscópio eletrônico e um microscópio metalúrgico
Princípio do microscópio eletrônico de varredura
O microscópio eletrônico de varredura (SEM), abreviado como SEM, é um sistema complexo que condensa tecnologia eletro-óptica, tecnologia de vácuo, mecânica fina e moderna tecnologia de controle de computador. SEM é um efeito acelerado de alta tensão do canhão de elétrons emitido pelo elétron através de uma convergência de lente eletromagnética de vários estágios em um pequeno feixe de elétrons. Digitalização na superfície da amostra, excitação de diversas informações, através da recepção dessas informações, amplificação e exibição de imagens, a fim de analisar a superfície da amostra. A interação dos elétrons incidentes com a amostra produz os tipos de informação mostrados na Figura 1. A distribuição de intensidade bidimensional desta informação varia com as características da superfície da amostra (essas características são morfologia da superfície, composição, orientação do cristal, propriedades eletromagnéticas , etc.), é uma variedade de detectores para coletar as informações em ordem, a proporção das informações convertidas em um sinal de vídeo e, em seguida, transmitidas para a varredura simultânea do tubo de imagem e modulação de seu brilho, você pode obter uma resposta para a superfície do mapa de varredura da amostra. Se o sinal recebido pelo detector for digitalizado e convertido em um sinal digital, ele poderá ser posteriormente processado e armazenado por um computador. Os microscópios eletrônicos de varredura são projetados principalmente para a observação de amostras de blocos grossos com grandes diferenças de altura e irregularidades ásperas e, portanto, são projetados para destacar o efeito de profundidade de campo e geralmente são usados para analisar fraturas, bem como superfícies naturais que não foram foram tratados artificialmente.
Microscópio eletrônico e microscópio metalúrgico
Primeiro, a fonte de luz é diferente: microscópio metalúrgico usando luz visível como fonte de luz, microscópio eletrônico de varredura usando feixe de elétrons como fonte de luz.
Em segundo lugar, o princípio é diferente: microscópio metalúrgico usando princípio de imagem de óptica geométrica para imagem, microscópio eletrônico de varredura usando bombardeio de feixe de elétrons de alta energia da superfície da amostra, excitação de uma variedade de sinais físicos na superfície da amostra e, em seguida, o uso de diferentes detectores de sinal para aceitar os sinais físicos convertidos em informações de imagem.
Terceiro, a resolução é diferente: microscópio metalúrgico devido à interferência e difração da luz, a resolução só pode ser limitada a 0.2-0.5um entre eles. Microscópio eletrônico de varredura porque o uso do feixe de elétrons como fonte de luz, a resolução pode atingir entre 1-3 nm, portanto, a observação de tecidos do microscópio metalúrgico pertence à análise de nível de mícron, a observação de tecidos por microscópio eletrônico de varredura pertence ao nível nanométrico análise.
Quarto, a profundidade de campo é diferente: a profundidade de campo do microscópio metalúrgico geral está entre 2-3um, portanto, a suavidade da superfície da amostra tem um grau muito alto de requisitos, portanto seu processo de amostragem é relativamente complexo. Embora o microscópio eletrônico de varredura tenha uma grande profundidade de campo, um grande campo de visão, imagens ricas em sentido tridimensional, podem observar diretamente uma variedade de microestruturas de superfície irregulares de espécimes.
