Por que a resolução de um microscópio eletrônico é muito maior do que a de um microscópio óptico?
Como os microscópios eletrônicos usam feixes de elétrons e os microscópios ópticos usam luz visível, e os comprimentos de onda dos feixes de elétrons são mais curtos do que os da luz visível, os microscópios eletrônicos têm uma resolução muito maior do que os microscópios ópticos.
A resolução de um microscópio está relacionada ao ângulo do cone e ao comprimento de onda do feixe de elétrons que passa pela amostra.
O comprimento de onda da luz visível é de cerca de 300 a 700 nanômetros, enquanto o comprimento de onda do feixe de elétrons está relacionado à tensão de aceleração. De acordo com o princípio da dualidade onda-partícula, o comprimento de onda dos elétrons de alta velocidade é menor que o da luz visível, e a resolução do microscópio é limitada pelo comprimento de onda que ele usa, então a resolução dos microscópios eletrônicos (0,2 nanômetros) é muito maior do que a dos microscópios ópticos. (200 nm).
A aplicação da tecnologia do microscópio eletrônico é baseada no microscópio óptico. A resolução do microscópio óptico é {{0}},2μm, e a resolução do microscópio eletrônico de transmissão é 0,2nm. vezes.
Embora a resolução de um microscópio eletrônico seja muito maior do que a de um microscópio óptico, ele apresenta algumas desvantagens:
1. Em um microscópio eletrônico, a amostra deve ser observada no vácuo, portanto, amostras vivas não podem ser observadas. Com o avanço da tecnologia, os microscópios eletrônicos de varredura ambiental realizarão gradativamente a observação direta de amostras vivas;
2. Ao processar a amostra, pode produzir estruturas que a amostra não possui, o que agrava a dificuldade de analisar a imagem posteriormente;
3. Devido à forte capacidade de dispersão de elétrons, é propenso a difração secundária, etc.;
4. Por ser uma imagem de projeção plana bidimensional de um objeto tridimensional, às vezes a imagem não é única;
5. Como a microscopia eletrônica de transmissão só pode observar amostras muito finas, é possível que a estrutura da superfície do material seja diferente da estrutura do interior do material;
6. Para amostras ultrafinas (abaixo de 100 nanômetros), o processo de preparação da amostra é complicado e difícil, e a preparação da amostra está danificada;
7. O feixe de elétrons pode destruir a amostra por colisão e aquecimento;
8. O preço de compra e manutenção do microscópio eletrônico é relativamente alto.
