A diferença entre o microscópio de força atômica e o microscópio óptico e o microscópio eletrônico
A principal diferença entre o AFM e as tecnologias concorrentes, como a microscopia óptica e eletrônica, é que o AFM não usa lentes ou feixes de luz. Assim, não é limitado pela resolução espacial devido à difração e aberrações, e não requer preparação de espaço para direcionar o feixe (criando um vácuo) e manchar a amostra.
Existem vários tipos de microscópios de varredura, incluindo microscopia de varredura por sonda (incluindo AFM, microscopia de tunelamento de varredura (STM) e microscopia óptica de varredura de campo próximo (SNOM/NSOM), microscopia STED (STED), bem como microscopia eletrônica de varredura e microscopia atômica eletroquímica microscopia de força EC-AFM). Embora o SNOM e o STED iluminem as amostras com luz visível, infravermelha e até terahertz, sua resolução não é limitada pelo limite de difração.
