Compartilhamento de tecnologia SEM para microscopia eletrônica de varredura
Princípio da análise SEM usando microscopia eletrônica de varredura: Uso de tecnologia eletrônica para detectar elétrons secundários, elétrons retroespalhados, elétrons absorvidos, raios X, etc. gerados durante a interação entre feixes de elétrons de alta energia e amostras, e amplificá-los em imagens
Os métodos de representação de espectrogramas incluem imagens retroespalhadas, imagens de elétrons secundários, imagens de corrente de absorção, distribuições de elementos em linhas e superfícies, etc.
Informações fornecidas: morfologia da fratura, microestrutura superficial, microestrutura dentro do filme, análise de elementos de microzona e análise quantitativa de elementos, etc.
Escopo de aplicação da microscopia eletrônica de varredura (SEM):
1. Análise da morfologia da superfície do material e observação da morfologia da microárea
2. Análise de vários formatos, tamanhos, superfícies, seções transversais e distribuição de tamanho de partículas de materiais
3. Observação da morfologia da superfície, análise de rugosidade e espessura de várias amostras de filmes finos
Projeto de teste SEM
1. Análise da morfologia da superfície do material e observação da morfologia da microárea
2. Análise de vários formatos, tamanhos, superfícies, seções transversais e distribuição de tamanho de partículas de materiais
3. Observação da morfologia da superfície, análise de rugosidade e espessura de várias amostras de filmes finos
A preparação de amostras de microscopia eletrônica de varredura é mais simples do que a de amostras de microscopia eletrônica de transmissão e não requer incorporação ou seccionamento.
Requisitos de amostra:
A amostra deve ser sólida; Atenda aos requisitos de composição não tóxica, não radioativa, não poluente, não magnética, anidra e estável.
Princípio de preparação:
Amostras com contaminação superficial devem ser devidamente limpas e depois secas sem danificar a estrutura superficial da amostra;
Fraturas ou seções transversais recentemente quebradas geralmente não requerem tratamento para evitar danos à fratura ou à superfície
Estado estrutural;
A superfície ou fratura da amostra a ser erodida deve ser limpa e seca;
Pré desmagnetização de amostras magnéticas;
O tamanho da amostra deve ser adequado ao tamanho do suporte de amostra específico do instrumento.
Métodos comuns:
amostra em massa
Material condutor em bloco: Não há necessidade de preparação da amostra, use adesivo condutor para colar a amostra no porta-amostra para observação direta.
Materiais em blocos não condutores (ou pouco condutores): Primeiro, use o método de revestimento para tratar a amostra para evitar o acúmulo de carga e afetar a qualidade da imagem.
