Vários recursos da microscopia óptica confocal
Alto contraste, alta resolução
Num microscópio óptico convencional, a interferência ocorre devido à luz reflectida da porção fora de foco, que se sobrepõe à porção de imagem do ponto focal, resultando numa redução no contraste da imagem. Em contraste, num sistema óptico confocal, a luz espalhada fora do ponto focal e dentro da lente objectiva é quase completamente eliminada, resultando em imagens com contraste muito elevado. Além disso, o poder de resolução do microscópio é melhorado porque a luz passa duas vezes pela lente objetiva, tornando a imagem pontual mais nítida.
Função de localização óptica
No sistema óptico confocal, a luz refletida é protegida pela microabertura em um ponto diferente do ponto focal. Portanto, ao observar uma amostra tridimensional, a imagem é formada como se a amostra tivesse sido fatiada com o ponto focal, e esse efeito é denominado localização óptica, que é uma das características do sistema óptico confocal.
Função de memória de mudança de foco
A luz refletida fora do ponto focal é bloqueada pela microvia, de modo que todos os pontos da imagem criada pelo sistema óptico confocal podem ser considerados coincidentes com o ponto focal. Movendo a amostra estéreo na direção do eixo Z (eixo óptico) e acumulando as imagens na memória, obtém-se uma imagem na qual todos os pontos da amostra coincidem com o ponto focal. A função de aprofundar indefinidamente a profundidade do foco dessa maneira é chamada de função de memória móvel.
Função de medição de formato de superfície
Ao adicionar um circuito de registro de altura de superfície à função de mudança de foco, o formato da superfície de uma amostra pode ser medido sem contato. Com esta função é possível registrar as coordenadas do eixo Z do valor máximo de luminância de cada pixel e obter informações sobre o formato da superfície da amostra com base nesta informação.
Função de medição de microdimensões de alta precisão
Um sensor de imagem CCD 1D é usado na unidade receptora de luz, o que permite medições de alta precisão sem ser afetado pela inclinação de digitalização do scanner. Além disso, uma função de memória de mudança de foco com profundidade de foco ajustável (aprofundamento) permite eliminar erros de medição causados pela mudança de foco.
