Novas técnicas de super-resolução, como microscopia de depleção por emissão estimulada, microscopia de localização fotoativada e microscopia de reconstrução óptica estocástica, reduziram a resolução de 100–200 nm ainda mais.
Posicionadores objetivos piezoelétricos com resolução nanométrica são ideais para essas aplicações. O alinhamento do microscópio e do porta-amostras requer movimentos rápidos e precisos. O posicionador de lente objetiva piezoelétrico baseado em unidade de cerâmica piezoelétrica de alta resolução pode fornecer suporte técnico exclusivo de ultraprecisão.
O posicionador de lentes objetivas piezoelétricas da série P72 foi especialmente projetado para aplicações em microscópios. Ele é projetado com um mecanismo de guia paralelo de dobradiça flexível não histerético. É sem atrito e tem resolução extremamente alta, pequena quantidade de compensação e estabilidade de foco ultra-alta. É muito adequado para aplicações como ajuste de amostra, alinhamento de feixe e rastreamento de feixe.
Características: Movimento no eixo Z, curso de 100μm, resolução de 2,5 nm, frequência harmônica sem carga 350Hz, tempo de passo sem carga 3ms.
Os posicionadores de lentes objetivas piezoelétricas da série P72 são pequenos em tamanho e compactos em estrutura e podem atingir um curso de deslocamento de 100 μm. Ele é conectado ao topo da lente por meio de um adaptador de rosca, e a rosca pode ser selecionada arbitrariamente. Ele pode ser adaptado a uma variedade de lentes padrão, como Olympus, Zeiss, Nikon e Leica, e pode ser personalizado.
A frequência ressonante sem carga pode atingir 350Hz e pode carregar uma carga de 200g para movimento de precisão de alta velocidade, que tem sido amplamente utilizado em varredura óptica, microscopia confocal e outros campos.
