Variações metalográficas e de microscopia eletrônica
Princípios de Microscopia Eletrônica de Varredura
O Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM), abreviado como SEM, é um sistema complexo; condensa tecnologia óptica de elétrons, tecnologia de vácuo, estrutura mecânica fina e moderna tecnologia de controle de computador. O microscópio eletrônico de varredura coleta os elétrons emitidos pelo canhão de elétrons em um fino feixe de elétrons através de uma lente eletromagnética de vários estágios sob a ação de alta tensão acelerada. Digitalize a superfície da amostra para estimular várias informações e analise a superfície da amostra recebendo, amplificando e exibindo as informações. A interação dos elétrons incidentes com a amostra produz os tipos de informações mostrados na Figura 1. A distribuição de intensidade bidimensional dessas informações muda com as características da superfície da amostra (essas características incluem morfologia da superfície, composição, orientação do cristal, propriedades eletromagnéticas , etc.), e as informações coletadas por vários detectores são convertidas de forma sequencial e proporcional Se o sinal recebido pelo detector for digitalizado e convertido em um sinal digital, ele poderá ser posteriormente processado e armazenado por um computador. O microscópio eletrônico de varredura é usado principalmente para observar amostras espessas com grande diferença de altura e rugosidade, de modo que o efeito de profundidade de campo é destacado no projeto e geralmente é usado para analisar fraturas e superfícies naturais que não foram processadas artificialmente.
Microscópio Eletrônico e Microscópio Metalográfico
1. Diferentes fontes de luz: microscópios metalográficos usam luz visível como fonte de luz, e microscópios eletrônicos de varredura usam feixes de elétrons como fonte de luz para geração de imagens.
2. O princípio é diferente: o microscópio metalográfico usa o princípio da imagem óptica geométrica para geração de imagens, e o microscópio eletrônico de varredura usa feixes de elétrons de alta energia para bombardear a superfície da amostra para estimular vários sinais físicos na superfície da amostra e, em seguida, usar diferentes detectores de sinal para receber sinais físicos e convertê-los em informações de imagens.
3. A resolução é diferente: devido à interferência e difração da luz, a resolução do microscópio metalográfico só pode ser limitada a 0.2-0.5um. Como o microscópio eletrônico de varredura usa feixes de elétrons como fonte de luz, sua resolução pode atingir entre 1-3nm. Portanto, a observação de tecido do microscópio metalográfico pertence à análise em microescala, e a observação de tecido do microscópio eletrônico de varredura pertence à análise em nanoescala.
4. A profundidade de campo é diferente: a profundidade de campo de um microscópio metalográfico geral está entre 2-3um, por isso tem requisitos extremamente altos na suavidade da superfície da amostra, então o processo de preparação da amostra é relativamente complicado. O microscópio eletrônico de varredura possui uma grande profundidade de campo, um grande campo de visão e uma imagem tridimensional, que pode observar diretamente a estrutura fina da superfície irregular de várias amostras.
