Como Múltiplas Observações de Microscópio Estereoscópico se Ajustam a Diferentes Necessidades
Os microscópios estéreo são usados para inspeção tridimensional e observação de peças eletrônicas\placas de circuito integrado\ferramentas de rotor\ímãs, etc. Com base no fato de que esses diferentes objetos medidos precisam ser observados em diferentes ampliações, como se adaptar a esses diferentes requisitos ? Pode ser resolvido de várias maneiras: a. através do desempenho óptico b. observação em vídeo opcional c. através de propriedades mecânicas d. através da iluminação da fonte de luz
Desempenho óptico: de acordo com os requisitos de observação do objeto medido, o problema de grande ampliação e grande campo de visão pode ser resolvido selecionando diferentes oculares\lentes objetivas. Quando apenas uma grande ampliação é necessária, a ocular de grande ampliação e a lente objetiva podem ser substituídas, e quando um grande campo de visão é necessário, a lente objetiva pode ser substituída e a ocular pode ser reduzida para atender aos requisitos.
Observação de vídeo: Quando a ampliação óptica não é suficiente, a ampliação eletrônica pode ser usada para compensar. Enquanto assistimos e queremos poder armazenar e guardar, podemos escolher o vídeo. Existem várias formas de vídeo: A. pode ser diretamente através do monitor B. pode ser conectado ao computador (através de CCD digital ou cartão de aquisição de imagem CCD analógico) C pode ser conectado a uma câmera digital (diferentes câmeras digitais devem considerar diferentes interfaces e combinando com o microscópio)
Propriedades mecânicas: Ao encontrar alguns campos de soldagem, montagem, inspeção de grandes placas de circuito integrado e requisitos de distância de trabalho, podemos resolvê-los através de propriedades mecânicas, como suportes universais, suportes basculantes, grandes plataformas móveis, etc. Com suas características de desempenho, quando detectando objetos grandes, podemos concluir nosso trabalho de detecção diretamente através do suporte e da plataforma. Não há necessidade de mover nosso objeto medido. Por exemplo: A empresa ABB tem dificuldade em mover a placa de circuito porque a placa de circuito a ser testada é relativamente grande e precisa ser observada com uma leve inclinação, portanto o trabalho de detecção só pode ser concluído por movimento mecânico. A função do suporte universal pode atender a esses requisitos ao mesmo tempo.
Iluminação da fonte de luz: A iluminação da fonte de luz desempenha um papel vital para que o objeto medido possa ser visto claramente. Ao escolher a iluminação, deve-se basear nas características do próprio objeto medido (considerando seus requisitos de luz, forte\fraco\refletivo, etc.) ) para selecionar a ferramenta de iluminação e o método de iluminação correspondentes.
