Como a ampliação de observação de um microscópio estéreo atende a diferentes requisitos
A microscopia estereoscópica é utilizada para inspeção tridimensional e observação de componentes eletrônicos, placas de circuito integrado, ferramentas de corte rotativas, ímãs, etc. Como se adaptar a esses diferentes requisitos com base na necessidade de observar diferentes objetos em diferentes múltiplos? Pode ser resolvido através de vários aspectos. um. Isso pode ser alcançado através do desempenho óptico. b. Pode ser selecionado para observação de vídeo. c. Isso pode ser alcançado através do desempenho mecânico. d. Pode ser iluminado por uma fonte de luz
Desempenho óptico: Com base nos requisitos de observação do objeto medido, diferentes oculares/objetivas são selecionadas para resolver problemas como grande ampliação e campo de visão. Quando apenas uma grande ampliação é necessária, a ocular e a lente objetiva de alta ampliação podem ser substituídas. Quando um grande campo de visão é necessário, o requisito pode ser alcançado substituindo a lente objetiva, reduzindo a ocular ou substituindo a ocular de grande campo de visão.
Observação por vídeo: Quando a ampliação óptica não é suficiente, a ampliação eletrônica pode ser usada como compensação. Ao observar simultaneamente e esperar armazenar e preservar, podemos escolher vídeos. Existem vários métodos de vídeo: A. Você pode usar diretamente o monitor B. Você pode conectar a um computador (através de um CCD digital ou placa de aquisição de imagem CCD analógica) C. Você pode conectar a uma câmera digital (diferentes câmeras digitais precisam considerar diferentes interfaces e compatibilidade com o mesmo microscópio)
Desempenho mecânico: Ao encontrar soldagem, montagem, inspeção de grandes placas de circuito integrado e requisitos de distância de trabalho, podemos resolvê-los por meio de desempenho mecânico, como suportes universais, suportes de balancim, grandes plataformas móveis, etc. , nosso trabalho de detecção pode ser concluído diretamente por meio de colchetes e plataformas ao detectar objetos grandes. Não há necessidade de mover nosso objeto medido. Por exemplo, devido ao grande tamanho da placa de circuito testada e à necessidade de observação sutil da inclinação, a placa de circuito da Empresa A é difícil de mover e só pode ser testada por meio de movimento mecânico. O uso de um suporte universal pode atender simultaneamente a esses requisitos de uso.
Iluminação da fonte de luz: A iluminação da fonte de luz desempenha um papel crucial para que o objeto que está sendo medido possa ser visto claramente. Ao escolher a iluminação, é necessário escolher as ferramentas e métodos de iluminação correspondentes com base nas características do objeto que está sendo medido (considerando seus requisitos de luz, como força, fraqueza e reflexão). Se a transmissão e a iluminação oblíqua fornecidas por um microscópio estéreo típico não atenderem às suas necessidades de iluminação, também preparamos lâmpadas LED de fonte de luz fria, lâmpadas circulares, lâmpadas de fonte de luz fria de fibra simples/dupla, etc.
