Cinco métodos comuns de observação do microscópio
1. Método de campo claro
Um método de observar a luz refletida diretamente de uma amostra. A luz do iluminador incide na amostra através de uma objetiva alinhada verticalmente, e a luz refletida direta da amostra é observada através da objetiva.
2. Método de campo escuro
Observe os métodos de secagem de amostras envolvendo luz difratada. A luz de iluminação incide obliquamente na amostra através da periferia da lente objetiva, e a luz seca da amostra é observada enquanto a luz difratada é observada.
Ideal para detectar pequenos arranhões ou rachaduras em amostras e inspecionar superfícies espelhadas de amostras, como wafers.
3. Método de luz polarizada
Esta é uma técnica de observação microscópica que utiliza luz polarizada formada por dois conjuntos de filtros de cores (polarizador de detecção e polarizador). Esses eixos de polarização são sempre perpendiculares entre si. Algumas amostras mostram um forte contraste entre os dois filtros. Ou expressar a cor com base nas propriedades de birrefringência e orientação (ou seja, amostras polidas de estruturas de zinco). Quando o analisador é inserido no caminho da luz de observação na frente da ocular, o polarizador está no caminho da luz na frente do iluminador vertical.
É adequado para observar a estrutura metalográfica (ou seja, modo de crescimento de grafite de ferro dúctil), minerais e cristal líquido (LCD) e materiais semicondutores.
4. Método de contraste de interferência diferencial
Esta é uma técnica de observação microscópica que altera a altura do contraste em uma imagem estereoscópica ou tridimensional usando o método de campo claro que pode não ser observado pelo método de campo claro. A luz de iluminação é alterada do prisma de contraste de interferência diferencial para duas luzes difratadas. A diferença na altura da amostra causada pelas duas luzes difratadas cria uma pequena diferença no caminho da luz, e a diferença no caminho da luz torna-se o contraste entre o prisma de contraste e o analisador usando interferometria diferencial.
As amostras sensíveis são reutilizadas para melhorar as aberrações cromáticas altamente variáveis.
É adequado para testar amostras com diferenças de altura de precisão extremamente alta, incluindo estruturas metalográficas, minerais, cabeças magnéticas, superfícies de discos rígidos e superfícies refinadas de wafer.
5. Método de fluorescência
Esta técnica é usada para amostras que fluorescem.
É adequado para detectar contaminação de wafer, resina fotossensível residual e detectar rachaduras pelo método de fluorescência.
