Explicação dos campos de aplicação do microscópio metalográfico

Aug 31, 2023

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Explicação dos campos de aplicação do microscópio metalográfico

 

Campos de aplicação do microscópio metalográfico

Exame metalográfico de metais ferrosos, exame metalográfico de metais não ferrosos, exame metalográfico de metalurgia do pó, identificação e avaliação de tecidos após tratamento de superfície do material.


Seleção de materiais: Existe uma certa correspondência entre a microestrutura e as propriedades dos materiais, com base na qual os materiais adequados podem ser selecionados.

Verificação: Verificação de matéria-prima e verificação de processo.

Verificação pontual: O processo de fabricação do produto realiza inspeção metalográfica em produtos semiacabados para garantir que a microestrutura do produto atenda aos requisitos de processamento do próximo processo.

Avaliação de processos: Determine e identifique a conformidade dos processos do produto.

Avaliação em serviço: Fornece uma base para o desempenho, confiabilidade e vida útil dos componentes em serviço.

Análise de falhas: descoberta de defeitos de processos e materiais para fornecer base de análise macro e micro para a análise das causas das falhas.


Os princípios de imagem da microscopia metalográfica


1. Campos de visão claros e escuros

Um campo de visão brilhante é um método básico de observação para observar amostras ao microscópio, apresentando um fundo brilhante na área do campo de visão do microscópio. O princípio básico é que quando a fonte de luz é iluminada verticalmente ou aproximadamente verticalmente na superfície da amostra através da lente objetiva, ela é refletida de volta para a lente objetiva para criar uma imagem.


A diferença entre a iluminação de campo escuro e a iluminação de campo claro reside na presença de um fundo escuro na área do campo de visão do microscópio. O método de iluminação do campo claro é a incidência vertical ou vertical, enquanto o método de iluminação do campo escuro consiste em iluminar a amostra através de iluminação oblíqua da área circundante fora da lente objetiva. A amostra irá espalhar ou refletir a luz irradiada, e a luz espalhada ou refletida da amostra entrará na lente objetiva para formar a imagem da amostra. A observação em campo escuro permite a observação clara de pequenos cristais incolores ou fibras de cores relativamente claras que são difíceis de observar em um campo claro.


2. Luz polarizada, interferência

A luz é uma onda eletromagnética, enquanto as ondas eletromagnéticas são ondas transversais e apenas as ondas transversais apresentam polarização. É definida como a luz que vibra de forma fixa em relação à direção de propagação do vetor elétrico.


O fenômeno de polarização da luz pode ser detectado usando dispositivos experimentais. Pegue dois polarizadores idênticos A e B e passe a luz natural através do primeiro polarizador A. Neste ponto, a luz natural também se torna luz polarizada, mas como o olho humano não consegue distingui-la, é necessário um segundo polarizador B. Fixe o polarizador A, coloque o polarizador B no mesmo plano horizontal de A e gire o polarizador B. Pode-se observar que a intensidade da luz transmitida sofre mudanças periódicas com a rotação de B. A intensidade da luz diminui gradualmente do máximo para o mais escuro em a cada rotação de 90 graus e depois aumenta do mais escuro para o mais claro a cada rotação de 90 graus. Portanto, o polarizador A é chamado de polarizador, enquanto o polarizador B é chamado de polarizador.

 

Interferência refere-se ao fenômeno de fortalecimento ou enfraquecimento da intensidade da luz causado pela superposição de duas ondas coerentes (luz) na zona de interação. A interferência da luz é dividida principalmente em interferência de fenda dupla e interferência de filme fino. A interferência de fenda dupla refere-se à luz não coerente emitida por duas fontes de luz independentes. O dispositivo de interferência de fenda dupla faz com que um feixe de luz passe através da fenda dupla e se torne dois feixes coerentes, formando franjas de interferência estáveis ​​na tela de luz. No experimento de interferência de fenda dupla, quando a diferença de distância entre um ponto na tela de luz e a fenda dupla é múltiplo de meio comprimento de onda, uma faixa brilhante aparece naquele ponto; Quando a diferença de distância entre um ponto na tela de luz e uma fenda dupla é um múltiplo ímpar de meio comprimento de onda, o aparecimento de uma faixa escura nesse ponto é considerado interferência de fenda dupla de Young. A interferência de filme fino refere-se ao fenômeno de interferência causado por dois feixes de luz refletidos formados por um feixe de luz refletido em duas superfícies de um filme fino. Na interferência de filme fino, a diferença de caminho entre a luz refletida nas superfícies frontal e traseira é determinada pela espessura do filme, portanto a mesma faixa brilhante (faixa escura) deve aparecer em locais onde a espessura do filme é igual. Devido ao comprimento de onda extremamente curto das ondas de luz, o filme dielétrico deve ser fino o suficiente para observar franjas de interferência durante a interferência do filme fino.

 

2 Electronic microscope

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