Breve Introdução dos Recursos de Microscópio da Probagem de Varredura
O microscópio da sonda de varredura (SPM) é um termo geral para o microscópio de tunelamento de varredura e vários novos microscópios de sonda desenvolvidos com base no microscópio de tunelamento de varredura (como microscopia de força atômica (AFM), microscopia de força a laser (LFM), microscopia magnética (MFM), etc.). É um instrumento de análise de superfície desenvolvido internacionalmente nos últimos anos. É um produto de alta tecnologia que integra luz, máquina e eletricidade, aplicando abrangentes realizações científicas e tecnológicas modernas, como tecnologia optoeletrônica, tecnologia a laser, tecnologia de detecção de sinais fracos, design e processamento mecânico de precisão, tecnologia de controle automático, tecnologia de processamento de sinais digitais, tecnologia de processamento óptico de alta velocidade. Esse novo tipo de ferramenta microscópica tem vantagens significativas em comparação com microscópios anteriores e instrumentos analíticos:
1. O SPM tem uma resolução extremamente alta. Ele pode facilmente "ver" átomos, o que é difícil para microscópios comuns ou mesmo microscópios eletrônicos para alcançar.
2. O SPM obtém imagens em tempo real e de alta resolução da superfície da amostra que realmente mostram os átomos. Ao contrário de alguns instrumentos analíticos que calculam a estrutura da superfície de uma amostra através de métodos indiretos ou computacionais.
3. O ambiente de uso do SPM está relaxado. Microscópios eletrônicos e outros instrumentos têm requisitos rígidos para o ambiente de trabalho, e as amostras devem ser colocadas sob condições de alto vácuo para testes. O SPM pode trabalhar no vácuo, bem como na atmosfera, baixa temperatura, temperatura ambiente, alta temperatura e até em soluções. Portanto, o SPM é adequado para experimentos científicos em vários ambientes de trabalho.
